Tá leithead bearna banna mór ag ábhar criostail aonair chomhdhúile sileacain (SiC) (~ Si 3 huaire), seoltacht ard teirmeach (~ Si 3.3 huaire nó GaAs 10 n-uaire), ráta ard imirce saturation leictreon (~ Si 2.5 uair), miondealú ard leictreach réimse (~ Si 10 n-uaire nó GaAs 5 huaire) agus tréithe eile den scoth.
Is féidir le fuinneamh Semicera substráit chomhdhúile sileacain Seoltach (Seoltach), Leath-inslithe (Leath-inslithe), HPSI (Leath-inslithe Ard-íonachta) a sholáthar do chustaiméirí; Ina theannta sin, is féidir linn bileoga epitaxial chomhdhúile sileacain aonchineálach agus ilchineálach a sholáthar do chustaiméirí; Is féidir linn an leathán epitaxial a shaincheapadh freisin de réir riachtanais shonracha na gcustaiméirí, agus níl aon chainníocht íosta ordú ann.
Míreanna | Táirgeadh | Taighde | Caochadán |
Paraiméadair Criostail | |||
Polytype | 4H | ||
Earráid treoshuímh dromchla | <11-20 >4±0.15° | ||
Paraiméadair Leictreacha | |||
Dopant | n-cineál Nítrigine | ||
Friotaíocht | 0.015-0.025ohm·cm | ||
Paraiméadair Mheicniúla | |||
Trastomhas | 99.5 - 100mm | ||
Tiús | 350 ±25 μm | ||
Treoshuíomh cothrom bunscoile | [1-100]±5° | ||
Fad comhréidh bunscoile | 32.5 ± 1.5mm | ||
Seasamh cothrom tánaisteach | 90° CW ón bpríomhárasán ±5°. sileacain aghaidh suas | ||
Fad cothrom tánaisteach | 18±1.5mm | ||
teilifís | ≤5 μm | ≤10 μm | ≤20 μm |
LTV | ≤2 μm(5mm*5mm) | ≤5 μm(5mm*5mm) | NA |
Bow | -15μm ~ 15μm | -35μm ~ 35μm | -45μm ~ 45μm |
Dlúth | ≤20 μm | ≤45 μm | ≤50 μm |
Garbhacht tosaigh (Si-aghaidh) (AFM) | Ra≤0.2nm (5μm*5μm) | ||
Struchtúr | |||
Dlús micreaphíopaí | ≤1 ea/cm2 | ≤5 ea/cm2 | ≤10 ea/cm2 |
Neamhíonachtaí miotail | ≤5E10adamh/cm2 | NA | |
BPD | ≤1500ea/cm2 | ≤3000ea/cm2 | NA |
TSD | ≤500 ea/cm2 | ≤1000ea/cm2 | NA |
Cáilíocht Tosaigh | |||
Tosaigh | Si | ||
Críochnú dromchla | Si-aghaidh CMP | ||
Cáithníní | ≤60ea/wafer (méid≥0.3μm) | NA | |
scratches | ≤2ea/mm. Fad carnach ≤ Trastomhas | Fad carnach≤2* Trastomhas | NA |
Craiceann oráiste / claiseanna / stains / stríoca / scoilteanna / éilliú | Dada | NA | |
Sceallóga imill / fleasc / briste / plátaí heicsidheachúlach | Dada | NA | |
Réimsí polytype | Dada | Achar carnach ≤20% | Achar carnach ≤30% |
Marcáil léasair tosaigh | Dada | ||
Cáilíocht Ar Ais | |||
Críoch ar ais | C-aghaidh CMP | ||
scratches | ≤5ea/mm, Fad carnach≤2* Trastomhas | NA | |
Lochtanna cúil (sliseanna imeall/fleasc) | Dada | ||
Ar ais roughness | Ra≤0.2nm (5μm*5μm) | ||
Marcáil léasair ar ais | 1 mm (ón imeall barr) | ||
Imeall | |||
Imeall | Chamfer | ||
Pacáistiú | |||
Pacáistiú | Tá an mála istigh líonta le nítrigin agus déantar an mála seachtrach a fholúsú. Caiséad il-wafer, epi-réidh. | ||
*Nótaí: ciallaíonn "NA" aon iarratas Féadfaidh míreanna nach luaitear tagairt a dhéanamh do SEMI-STD. |